生产厂家

投入日期

管理人员

郑振环，陈玉龙

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安放地址

性能参数

分辨率：信息分辨率优于0.12nm,STEM-HAADF分辨率优于0.16n  m，点分辨率优于0.25nm，线分辨率优于0.10nm

加速电压：80kV～200 kV

能量分辨率：MnKα优于129eV

附件：（1）Bruker Xflash 6TI60射线能谱仪（EDS）；

    （2）单、双倾杆。

仪器主要用途

普通透射成像（TEM）用于观察样品的形貌；高分辨透射(HRTEM)可用于确定材料的晶体结构，观测晶体缺陷及界面结构；电子衍射模式主要用于物相、晶体结构研究，可进行选区电子衍射等; STEM模式主要用于形貌及结构的观察，包含BF/DF/HAADF等成像；EDS能谱用于材料化学成分的定性、定量及面分布等分析。

送样要求

面向学科