仪器型号
K-Alpha™+ X 射线光电子能谱仪(XPS) 系统
生产厂家
Thermo Scientific
投入日期
2017年10月
管理人员
王国强
电话
安放地址
材料科学楼5#115
性能参数
分析器——180°双聚焦半球型分析器,配备128 通道检测器。
X 射线源—— Al Ka 微聚焦单色器,可变光斑尺寸(30-400 µm,以 5 µm 为步长)。
离子枪—— 能量范围 100-4000 eV。
荷电补偿——双束源。
样品处理——4 轴样品台、60 x 60 mm 样品区域、20 mm 最大样品厚度 。
真空系统——2 x 220 L/s 涡轮分子泵,用于进样室和分析室。
仪器主要用途
XPS:固体样品的表面组成分析,化学状态分析,取样讯息深度为~10nm以内. 功能包括:
1. 表面定性与定量分析. 可得到小於10um 空间分辨率的X射线光电子能谱的全谱资讯.
2. 维持10um以下的空间分辨率元素成分包括化学态的深度分析(角分辨方式,,氩离子或团簇离子刻蚀方式)
3. 线扫描或面扫描以得到线或面上的元素或化学态分布.
4. 成像功能。
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